Leica EM TXP для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований
Универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований.
Установка оснащена интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировкой угла наклона держателя образцов. Для контроля качества полученных поверхностей нет необходимости использовать дополнительный микроскоп.
Отлично подходит для предварительно подготовки образцов для ультрамикротома и ионного травления.