scietegra@scietegra.com +7 (495) 542 49 16 ЭЖК Эдем, квартал 5, д.12
  • Сайтегра
    • О компании
    • Вакансии
  • Оборудование
    • Масс-спектрометрия
      • ГХ-МС
        • Высокое разрешение
          • GC-MS Orbitrap Exactive
      • ВЭЖХ-МС
        • Тройной квадруполь
          • Fortis
          • Quantis
          • Altis
        • Трибридные
          • Orbitrap Tribrid ID-X
          • Orbitrap Tribrid Fusion Lumos
          • Orbitrap Tribrid Eclipse
        • Exploris
          • Orbitrap Exploris 120
          • Orbitrap Exploris 240
          • Orbitrap Exploris 480
    • Элементный анализ
      • Атомно-абсорбционная спектрометрия
        • novAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
        • ZEEnit
          • 650P
          • 700P
        • contrAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
      • ИСП-ОЭС
        • Plasma Quant
          • Plasma Quant 9000
      • ИСП-МС
        • Plasma Quant PQ MS
          • Plasma Quant MS
      • CNSCl-анализаторы
        • CNSCl — анализаторы
          • multi EA4000
          • multi EA5000
        • TOC — анализаторы
          • ТОС-анализатор серии multiN/C®
    • Электронная микроскопия
      • Помощник в выборе микроскопа
      • Сканирующие ЭМ
        • W-SEM
          • Hitachi ТМ4000 Plus
          • FlexSEM SU1000
          • SU3800/SU3900
        • FE-SEM
          • SU5000
          • SU7000
          • SU8200
          • SU9000
      • Просвечивающие ЭМ
        • HT7800
        • HD2700
        • FE-TEM HF5000 Hitachi HT
        • HF-3300
      • Пробоподготовка
        • Системы ионного травления
          • Hitachi IM4000Plus
          • Leica EM TIC 3X
          • Leica EM TXP
        • Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Leica EM AFS2 Smart
          • Leica EM ICE
        • Триммеры
          • Leica EM RAPID
          • Leica EM TXP
          • Leica EM TRIM2
        • Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
          • Leica EM KMR3
          • Leica EM FC7
          • Leica EM UC7
        • Системы напыления металлом и углеродом
          • Leica EM ACE200
          • Leica EM ACE600
          • Leica EM ACE900
        • Тканевый процессор
          • Leica EM TP
        • Сушка в критической точке
          • Leica EM CPD300
    • Световая микроскопия
      • Прямые микроскопы
        • Leica DM500
        • Leica DM1000
        • Leica DM4 B&DM6B
        • Leica DM2500
      • Конфокальные микроскопы
        • Leica TCS SPE
        • Leica TCS LSI
        • Leica TCS SP8
      • Инвертированные микроскопы
        • Leica DMi1
        • Leica DMi8
        • Leica DMI3000 M
        • Leica DM IL LED
      • Стереомикроскопы
        • Серия M
          • Leica М50
          • Leica M80
          • Leica M125
          • Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
      • Микроскопы сравнения
        • LEICA FS M
      • 3D-Микроскопия
        • 3D Cell Explorer
    • Термоанализ
      • Синхронный термический анализ
        • STA7000
      • Термомеханический анализ
        • TMA7000
      • Динамический механический анализ
        • DMA7100
      • Дифференциальная сканирующая калориметрия
        • Система УФ-излучения